Shanghai Conhon Electronic&Technology Co.,Ltd. Контроль качества

Через систему SPC, отростчатый анализ, анализ контрольного графика, анализ гистограммы, анализ тенденции изменения и анализ производительности технологического процесса можно выполнить на, который подвергли механической обработке частях продукта. Индекс серии качественный (стандартное отклонение, CPK) можно проанализировать согласно различным широтам как продукт, мастерская и процесс, как анализ диаграммы тенденции и сравнительный анализ к год, месяц и неделя. Зыбкост между серией и серией частей продукта можно визуально увидеть. В термической обработке и мастерской формировать, автоматические отростчатые данные использованы для того чтобы получить отростчатые данные, и фактическая диаграмма параметра процесса может быть нарисована статистическим анализом. Сравнение с отростчатой диаграммой параметра требования использовано для того чтобы проанализировать исполнение определяющих параметров термической обработки и отливая в форму процесса. Соответствие. Эти аналитические инструменты приложены к различным этапам в системе SPC, фокусирующ на различных аспектах, обеспечивающ осуществление целей системы SPC, и также формирующ и экспортирующ отчеты об анализа путем анализировать данные.